光學(xué)膜厚儀
光學(xué)薄膜厚儀Delta系列
儀器簡介
Delta薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)地：中國
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 波長范圍：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta
儀器簡介
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 產(chǎn)地：廣東
- 波長范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm
TF200光學(xué)膜厚儀
儀器簡介
TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：Betop
- 型號：TF200
- 產(chǎn)地：中國
- 價格：面議